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簡要描述：全自動介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
產(chǎn)品型號：HJS廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2026-01-20訪 問 量： 3120產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
全自動介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品用途 Product Usage
全自動介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
全自動介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz, 三種選項它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
全自動介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計算得到。
概述
HJS-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。
優(yōu)勢特點(diǎn)Advantages and Characteristics
1、可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計算
2、可測試電阻
3、 4.3寸TFT液晶顯示
4、 中英文可選操作界面
5、 最高5MHz的測試頻率
6、平衡測試功能
7、 變壓器參數(shù)測試功能
8、 最高測試速度:13ms/次
9、 電壓或電流的自動電平調(diào)整（ALC）功能
10、 V、I 測試信號電平監(jiān)視功能
11、 內(nèi)部自帶直流偏置源
12、 可外接大電流直流偏置源
13、 10點(diǎn)列表掃描測試功能
14、 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻
15、 內(nèi)建比較器，10檔分選和計數(shù)功能
16、 內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存
17、 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤
18、 RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
19、 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。
20、 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1～105
ε 和 D性能： | |
固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。 | |
ε和D測量范圍 | ε：1～105，D：0.1～0.00005， |
ε和D測量精度（10kHz） | ε：±2% ， D：±5%±0.0001 |
測試參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
測試頻率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn) |
測試信號電 | f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
顯示范圍 | L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C :0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR : 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D : 0.0001 ～ 9.9999 Q : 0.0001 ～ 99999 θ : -179.99°～ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） |
中速 | 25次/s, 慢速: 5次/s |
校準(zhǔn)功能 | 開路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn) |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 |
量程方式 | 自動, 保持 |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 |
內(nèi)部直流偏 | 電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計數(shù)功能 |
顯示器 | 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 |
存儲器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件） |
工作頻率范圍 | 20Hz～2MHz 數(shù)字合成， |
精度 | ±0.02% |
電容測量范圍 | 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |
介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電極） | 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。 |
它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。 | |
微分頭分辨率 | 10μm |
最高耐壓 | ±42Vp（AC+DC） |
電纜長度設(shè)置 | 1m |
最高使用頻率 | 5MHz |
電極示意圖（Electrode schematic diagram）
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置Equipment standard configuration
試驗(yàn)主機(jī) 一臺
試驗(yàn)電極 一套
數(shù)據(jù)連接線 一條
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份
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